根據(jù)理論分析得知，TEV有可能是由于局部放電引起的電磁波從開關(guān)柜不連續(xù)處泄露而形成。為了驗證其理論的正確性，首先對無縫情況時的TEV傳播過程進行了仿真，其結(jié)果如圖所示。

上圖中所示為無縫情況下TE號在開關(guān)柜內(nèi)的傳播過程，TE號以放電源為中心向四周輻射，明顯穿透了開關(guān)柜金屬外殼，不過理論上金屬對電磁信號有很強的屏蔽作用，為了得知電磁信號是否被屏蔽，通過檢測探針在開關(guān)柜模型金屬殼外表面測量到的信號強度如下圖所示。

無縫時的TE號仿真結(jié)果zui大值為6e-9Vfmm，接近于0，由此可見，開關(guān)柜殼體對TE號產(chǎn)生的金屬屏蔽作用明顯，TE號以穿透金屬為傳播路徑的可能性很小。